主板维修关键点测试

主板维修关键点测试( B3 L. S+ y3 Y* s
北桥的工作电压 南桥工作电压 时钟
0 K; O' N" B* H. W* r( l& j7 G+3.3v +3.3V 32.768 南桥
; Q  /' F$ P, q( p: i+1.5V +5V 14.318 基本时钟# i2 p! _3 f) t" z
+1.0v Vtt参考电压 +1.8V 33mhz pci; x4 j9 N% s( F1 M  j
+1.8V hub link线 +0.9V 66mhz 总线
  L- M4 j) S1 z+0.9v 不要忽视 +2v(有的有) 48mhz usb, h3 i3 I) Z/ t$ C9 _
+.25V 负载电压 +1.75V(核心电压)
$ x. w/ _5 _5 K" ]# n8 U3 m+0.5V 参考! @  Y% S% e) h* y3 j6 q* R
+1.75V
, R  R1 ?7 k; C/ S8 S, y. ^6 F5 G测量NB SB旁或背面的电容..../ M; c5 c' D4 j- q; `
bios:方BIOS只针对intel的芯片 长bios(只针对via,sis方形的bios按长bios看待)* @* c& a7 @9 t2 T  g8 p% C9 k
1,25,27脚 vcc +3.3v 1pin 编程脚
8 l! g; R: C; c2pin 复位 2pin-12pin,23,25pin-30pin 地址线5 [) x7 n8 v7 R/ y* y$ x
31pin 时钟 13pin-15pin 17pin-21pin 数据线
2 |+ G( E8 f5 d0 t' n' r13,14,15,17 4条AD线 16pin 接地
; }1 // n" L4 L23pin 片选 22pin 片选5 p# @: P6 A! G7 q6 ?" t7 e( p
24pin 初始化脚 24pin 内存读
* [0 ?" F+ O' r! L) L6 B5 e16pin 接地 21pin 内存写5 m# Z3 a; h! X0 J7 r
32pin vcc+5V供电
! u( V8 p0 m1 s5 `& b2 Y( J$ Zpci的关键点1 g$ _& s1 D: S5 Q; W, u
1,供电 A2 +12V A62 +5v B2 -12V A53 +3.3v) r! W0 x3 _2 ~- c
2,时钟 B16 33Mhz 由时钟IC发出9 k! Y# e: H+ Q7 j9 m* z, m, N
3,复位 A15 由南桥发出8 C9 [+ P3 T8 k* T7 ^
4,Frame A34 帧信号,表示允许总线传输和片选一样在触发和复位瞬间可测* o# X3 |. z1 v& s- a1 W5 Z0 H
5,32条AD线 A 20,22,23,25,28,29,31,32,44,46,47,49,54,55,57,58( Y# E# U. Q+ R
B 20,21,23,24,27,29,30,45,47,48,52,53,55,56,58(各对地阻值电压要基本一至)
1 Q0 i, F* g( fAGP的关键点" ]' V! h/ b5 w0 y1 ^& h  J
1,供电 A1 +12V B2 +5V A9 +3.3v B24 +3.3v# }% e9 J% L9 Z9 z) A6 c5 ~0 /3 v
2,vddQ B40 A40 既AGP槽的到数第二脚
1 C" _0 Z3 _6 s2 T% `% R